EN
English
Chinese
产品介绍 产品特点 应用领域 技术参数
Pheda1412
X射线动态平板探测器
Pheda 1412 基于先进的 CMOS 成像技术，具有 100 微米的像素尺寸，是一款拥有高分辨率和低噪声的高灵敏度 X 射线平板探测器。其拥有卓越的灵敏度和信噪比，在低剂量场景下依然能提供高品质的图像质量。
适用于多种工业无损检测应用，如电子部件检测、显微 CT、锂电池检测、铸造件检测、汽车、航天制造质量控制。
产品特点
100μm像素尺寸
1404×1204像素矩阵
20 kGy长辐照寿命
应用领域
- 电子部件检测
- 显微CT
- 锂电池检测
- 铸造件检测
- 汽车、航天、电子制造质量控制
电子部件检测
显微CT
锂电池检测
铸造件检测
汽车、航天、电子制造质量控制
技术参数
传感器
类型
CMOS
像素尺寸
100µm
像素矩阵
1404×1204
有效面积
140.4×120.4mm²
闪烁体
CsI/GOS
辐照寿命
20kGy
能量范围
40kV～160kV
功能
采集模式
连续触发/触发模式
触发模式
内触发/外触发
ROI
自定义任意尺寸
其他
接口
RJ45 (以太网协议接口)
电源
DC12V±10%
功耗
≤10W
使用环境
+10ºC~+40ºC
存储环境
-20ºC~+60ºC
产品比较
比较
型号 类型 像素尺寸 像素矩阵 有效面积 帧速率 闪烁体 辐照寿命 能量范围 采集模式 触发模式 ROI 接口 电源 功耗 使用环境 存储环境 重量 外型尺寸(W×L×H)
Pheda3030 CMOS 100μm 3000×3000 300×300mm² CsI 40kV～160kV 连续触发/触发模式 内触发/外触发 自定义任意尺寸 DC24V±10%
Pheda1613D a-Si(TFT) 125μm 1274×1024 160×128mm²（6×5in） CsI 20kGy 40kV~230kV 连续触发/触发模式 内触发/外触发 自定义任意尺寸 RJ45 (以太网协议接口) DC24V±10% ≤12W +5ºC~+35ºC -20ºC~+60ºC
Pheda1412-5G CMOS 100µm 1404×1204 140.4×120.4mm² CsI 20kGy 40kV～160kV 连续触发/触发模式 内触发/外触发 自定义任意尺寸 RJ45 (以太网协议接口) DC12V±10% ≤15W +10ºC~+40ºC -20ºC~+60ºC
Pheda1512 CMOS 100µm 1440×1120 144.0×112.0mm² CsI/GOS 20kGy 40kV～160kV 连续触发/触发模式 内触发/外触发 自定义任意尺寸 RJ45 (以太网协议接口) DC12V±10% ≤10W +10ºC~+40ºC -20ºC~+60ºC
Pheda0606A CMOS 49.5μm 1172×1260 58.0×62.4mm² CsI 10kGy 40kV~160kV 连续触发/触发模式 内触发/外触发 自定义任意尺寸 RJ45（以太网协议接口） DC12V±10% ≤4W +10ºC~+40ºC -20ºC~+55ºC
Pheda1313 CMOS 100µm 1280×1280 128.0×128.0mm² CsI/GOS 20kGy 40kV~160kV 连续触发/触发模式 内触发/外触发 自定义任意尺寸 RJ45 (以太网协议接口) DC12V±10% ≤10W +10ºC~+40ºC -20ºC~+60ºC
Pheda1215A CMOS 49.5μm 2940×2342 145.5×115.9 mm² CsI 10kGy 40kV~160kV 连续触发/触发模式 内触发/外触发 自定义任意尺寸 RJ45 (以太网协议接口) DC12V±10% ≤6W +10ºC~+40ºC -20ºC~+60ºC
比较
tips